一种半导体储存器的测试方法。首先将〝0〞写入所有储存单元，接着将第一个位址的内容改写为〝1〞，读第二个位置内的〝0〞。回到第一个位址读〝1〞，又到第二个位址读〝0〞，第三个位址读〝0〞；再到第一个位址读〝1〞，又到第二、三、四个位址读〝0〞，如此重复下去，每次多读一个位址，直到所有位址读完为止。然后将第一个位址的内容还原为〝0〞，第二个位址的内容改写为〝1〞，照样重复一遍。直到所有位址都改写完毕，才算测试完跃步〝1〞。然后将〝1〞写入所有的储存单元，每个位址的内容依次改写为〝0〞，依照上述的步骤测试跃步〝0〞。