又称双光束斑点干涉法；其原理及安排方式与斑点照相术相仿。惟一的差别乃是将同调光源（如雷射光）分成两道光来照射物体，主要是利用两道光线光程差对物体面外变形的敏锐度，未达到量测物体相关的面外变形量。所以，此法可量测物体表面x,y,z方向分量、位移导数、物体面外振动节线位置及表面等高线等，其灵敏度与全像摄影干涉术相仿。此法也是一种非破坏检测方法，且设备简易。