要径测试产生

【要径测试产生】基础信息（ 英文,繁体）

词语 要径测试产生
英文 critical path test generation
繁体 要徑測試產生

【要径测试产生】是什么意思

一种从主输出到主输入向后驱动的单通路敏化测试产生方法。在测试产生过程中，如果每个逻辑元件的输出确定后，该元件输入值应规定为临界值（即元件的临件输入值变化时，输出值将变化）。

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