泰迪法是一种利用光弹性仪本身光学元件测定小数级光弹条纹的补偿方法（参见compensation technique)，不需另加设备，方法简便并有足够的精度，其补偿方法及步骤如下：1.在白光平面偏振光场下，定出被测点的主应力方向。2.改用双交叉式圆偏振光暗场（参见circular polariscope及dark field），转动整个镜片系统（包括偏振片、两片 1/4波片及分析仪），直至偏振片与分析仪的偏振轴方向分别与该点的主应力方向相重合。3.当将分析仪转动某一角度时，可使相邻的等差线移至被测点A，如图所示。若分析仪转过θ角度，n级等差线移至被测点A，则A点的总条纹级次为：nA＝n＋θ°／180°若分析仪向相反方向转动，则(n+1)级次的条纹将移至A点，若此时转角为θ'，则A点的总条纹级次为：