在光弹性实验中，根据明场和暗场等差线条纹图形可分别测出半整数级和整数级条纹级次(fringe order)，但光弹模型上被测点的位置，一般而言并不恰好位于整数级或半整数级条纹之上，亦即它们的条纹是小数级次的。为了提高测试精度，吾人必须能够精确地测定小数级次，一般需用仪器补偿以测定之，称为补偿法。补偿法大致可分为三类：第一类是人为制造一个已知相位差，与被测点的未知相位差相抵消，从而测得该点的小数级次，这一类包括拉力试件补偿法、石英楔体补偿法及纯弯曲试件等补偿法；第二类是利用光弹性仪本身的光学设备，这一类包括分析仪补偿法（即泰迪法，参见 Tardy method）、1/4波片补偿法等；第三类是用光度计测取光强，根据光强计算小数级次。